Testeur de taux d'erreur binaire Tektronix BSA260C
Tektronix BSA260C Bit Error Rate Tester
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Le testeur de taux d'erreur binaire Tektronix BSA260C fournit la génération de motif haute vitesse et l'analyse d'erreur jusqu'à 28,6 Gb/s avec analyse intégrée du diagramme de l'œil.
Détails du produit
| Modèle | BSA260C |
| Fabricant | Tektronix |
| Catégorie | Test de Taux d'Erreur Binaire |
| Disponibilité | Sur commande |
Description
Aperçu
Le testeur de taux d'erreur binaire Tektronix BSA260C BERTScope fournit des mesures complètes d'intégrité de signal pour les systèmes de données en série. Il combine l'analyse du diagramme de l'œil avec la génération de motif BER pour permettre l'isolement rapide des séquences de bits et de motifs problématiques, puis l'analyse approfondie avec des techniques d'analyse d'erreur avancées.
Caractéristiques principales
- Génération de motif et analyse d'erreur avec des mesures BER haute vitesse jusqu'à 28,6 Gb/s
- Temps de montée d'entrée rapide et détecteur d'erreur à large bande passante d'entrée pour une analyse précise de l'intégrité du signal
- Analyse intégrée du diagramme de l'œil avec corrélation BER
- Analyse de localisation d'erreur brevetée™ pour la compréhension rapide des limitations de performance BER
- Décomposition complète du jitter incluant l'analyse du jitter de motif long (PRBS-31)
- Génération de stress calibrée intégrée avec jitter sinusoïdal jusqu'à 100 MHz
- Suite d'essai de couche physique avec essais de masque, pic de jitter, contour BER et analyse de facteur Q
- Prise en charge des modèles de tolérance de jitter standard et des bibliothèques définies par l'utilisateur
Applications
- Essais du récepteur PCIe 2.0 & 3.0
- Essais de diagramme de l'œil stressé électriquement Ethernet 10/40/100 Gb
- Essais du canal de fibre (FC8, FC16, FC32) et IEEE 802.3ba
- Analyse d'intégrité du signal SFP+/SFI, OIF/CEI et InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR)
- Essais de protocole de données en série SATA, USB 3.1 et autres
Caractéristiques techniques
| Maximum BER Speed | 28.6 Gb/s |
| Pattern Generation | Yes |
| Error Analysis Type | Bit error rate with error location analysis |
| Eye Diagram Analysis | Integrated with BER correlation |
| Jitter Analysis | Comprehensive decomposition with PRBS-31 support |
| Sinusoidal Jitter Range | 0 to 100 MHz |
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