Analyseur de paramètres de semiconducteurs Keysight 4145A

Aperçu

Le Keysight 4145A est un instrument autonome conçu pour la caractérisation DC complète des dispositifs et matériaux semiconducteurs. Il fonctionne à la fois comme source de stimulus et instrument de mesure, avec des unités stimulus/mesure programmables qui permettent une analyse de dispositif complète. L'affichage CRT intégré et les outils d'analyse graphique permettent la visualisation en temps réel et le calcul des paramètres du dispositif tels que le gain de courant (hFE) et la transconductance (gm).

Caractéristiques principales

• Quatre unités stimulus/mesure (SMU) indépendantes, chacune configurable comme source de tension/moniteur de courant ou source de courant/moniteur de tension
• Plage de courant : 1 pA à 100 mA
• Plage de tension : 1 mV à 100 V
• Affichage CRT intégré avec formats de sortie sélectionnables par l'utilisateur (graphique, liste, matrice, schmoo)
• Calculatrice programmable pour l'extraction de paramètres en temps réel
• Outils d'analyse graphique : marqueur, curseur, fonction de ligne, interpolation
• Deux sources de tension et deux moniteurs de tension pour les tests de dispositifs multi-terminaux
• Lecteur de disque flexible pour le stockage des programmes et des résultats
• Interface GPIB pour contrôle par ordinateur externe

Applications

• Caractérisation des dispositifs semiconducteurs
• Extraction de paramètres de transistor (base commune, émetteur commun, collecteur commun)
• Test de circuits intégrés (IC)
• Contrôle de la qualité en ligne de production et analyse du rendement des dispositifs
• Mesures des propriétés des matériaux