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Compteur universel d'intervalle de temps/fréquence Stanford Research Systems SR620

Stanford Research Systems SR620 Universal Time Interval/Frequency Counter

Stanford Research Systems · Modèle : SR620 Sur commande
Compteur universel d'intervalle de temps/fréquence Stanford Research Systems SR620
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Compteur d'intervalle de temps/fréquence Stanford Research Systems SR620 avec résolution de 25 ps, plage de 1,3 GHz, résolution de fréquence à 11 chiffres et statistiques pour les applications de laboratoire et ATE.

Modèle SR620
Fabricant Stanford Research Systems
Catégorie Compteurs de fréquence
Disponibilité Sur commande

Aperçu

Le Stanford Research Systems SR620 est un compteur universel d'intervalle de temps et de fréquence conçu pour les applications de laboratoire et d'équipement de test automatisé (ATE). Il effectue pratiquement toutes les mesures de temps et de fréquence requises dans un environnement de laboratoire avec une précision exceptionnelle. La résolution de synchronisation aller simple de 25 ps rms de l'instrument et son faible jitter en font l'un des compteurs de résolution les plus élevés disponibles, adapté aux applications allant de l'analyse de jitter de boucle verrouillée en phase à court terme aux mesures de dérive à long terme des horloges atomiques.

Caractéristiques principales

  • Résolution de synchronisation aller simple de 25 ps avec faible jitter
  • Mesure de fréquence de 0,001 Hz à 1,3 GHz
  • Résolution de fréquence à 11 chiffres en 1 seconde
  • Mesures d'intervalle de temps, de période, de largeur d'impulsion, de temps de montée/descente et de phase
  • Sortie graphique : histogrammes, graphiques en bande et tracés de jitter sur oscilloscope ou traceur
  • Calcul de statistiques : moyenne, écart-type, variance d'Allan, min/max
  • Options d'amorçage et de déclenchement flexibles
  • Étalonnage automatique intégré pour annuler les délais d'insertion
  • Sortie de référence de précision 1 kHz à cycle utile 50 %
  • Interfaces GPIB (IEEE-488.2) et RS-232
  • Deux entrées DVM (±20 VDC à 0,3 % de précision) et deux sorties DAC
  • Base de temps thermalisée facultative avec stabilité à long terme améliorée

Applications

  • Analyse de boucle verrouillée en phase et de jitter
  • Mesure de dérive d'horloge atomique et de stabilité
  • Vérification des normes de fréquence et de synchronisation
  • Équipement de test automatisé (ATE) et test de production
  • Caractérisation de stabilité d'oscillateur et de cristal
Single-Shot Resolution 25 ps rms
Frequency Range 0.001 Hz to 1.3 GHz
Frequency Resolution 11 digits (1s gate)
Measurement Types Time interval, frequency, pulse-width, rise/fall time, period, phase, events
Gate Options 1 period to 500 seconds
DVM Inputs ±20 VDC, 0.3% accuracy
DAC Outputs 0 to 10 V (2 channels)
Graphical Display Points Up to 250 strip-chart points or histogram bins
Interfaces GPIB (IEEE-488.2), RS-232, parallel printer
Reference Output 1 kHz, 50% duty cycle
Standard Timebase Aging 1 x 10^-6/year
Optional Ovenized Timebase Aging 5 x 10^-10/day
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