Système de test de diode laser pulsée Keithley 2520

Aperçu

Le système de test de diode laser pulsée Keithley 2520 est un système intégré et synchronisé conçu pour tester les diodes laser au début du processus de fabrication, avant l'emballage ou l'application du contrôle de température actif. Il combine toutes les capacités d'approvisionnement et de mesure nécessaires aux tests LIV (light-current-voltage) pulsés et continus dans un seul instrument compact d'une demi-baie. La synchronisation étroite entre la source et la mesure assure une haute précision même avec des largeurs d'impulsion aussi courtes que 500ns, ce qui le rend idéal pour les tests de production en cours des diodes laser au niveau de la puce ou de la barre.

Caractéristiques principales

• Solution intégrée pour les tests LIV pulsés et continus des diodes laser
• Capacité d'impulsion jusqu'à 5A ; capacité CC jusqu'à 1A
• Temps d'impulsion programmable de 500ns à 5ms avec jusqu'à 4 % de cycle utile
• Précision de mesure 14 bits sur trois canaux de mesure (VF, photodiode avant, photodiode arrière)
• Canaux de mesure basés sur DSP synchronisés pour des mesures précises de l'intensité lumineuse et de la tension
• Jusqu'à un balayage de 1000 points stocké en mémoire tampon pour éliminer le trafic GPIB pendant le test
• L'algorithme de mesure augmente le rapport signal/bruit de la mesure d'impulsion
• Opérations de binning et de manipulation E/S numériques
• Le balayage peut être programmé pour s'arrêter à la limite de puissance optique
• Interfaces IEEE-488 et RS-232

Applications

• Tests de production des diodes laser au niveau de la puce ou de la barre
• Assurance qualité au début de la fabrication avant l'emballage
• Caractérisation de la puissance optique et électrique des diodes laser
• Tests pulsés et CC des sources optiques semi-conductrices

Accessoires inclus

• Manuel de l'utilisateur
• Guide de référence rapide
• Câble Triax (Qtés 2)
• Câbles coaxiaux BNC 10W (Qtés 4)