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Unité Keysight B2911A Source Measure

Keysight B2911A Source Measure Unit

Keysight · Modèle : B2911A Sur commande
Unité Keysight B2911A Source Measure
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L'unité Keysight B2911A source/mesure à canal unique offre une tension maximale de 210V, un courant DC de 3A et un courant d'impulsion de 10.5A, une résolution de 10 fA/100 nV pour le test de semi-conducteurs.

Modèle B2911A
Fabricant Keysight
Catégorie Analyseurs LCR et d'impédance
Disponibilité Sur commande

Présentation

L'unité Keysight B2911A est une unité source/mesure de précision compacte à canal unique conçue pour des tâches de mesure IV polyvalentes nécessitant une précision et une résolution élevées. Elle offre une large gamme de sortie de ±210 V, ±3 A DC et ±10.5 A en capacité pulsée avec une résolution de mesure aussi fine que 10 fA pour le courant et 100 nV pour la tension. Les capacités intégrées de sourçage et de mesure quatre quadrants permettent une caractérisation électrique précise d'une large variété de dispositifs sans nécessiter plusieurs instruments ou configurations complexes.

L'unité dispose d'un écran LCD couleur intuitive de 4.3 pouces avec modes d'affichage graphique et numérique, permettant une configuration rapide et une visualisation des données directement depuis le panneau avant. La génération de forme d'onde arbitraire intégrée et les capacités de numérisation avec des intervalles de 10 microsecondes offrent une flexibilité extensive pour la caractérisation électrique dynamique. Les options multiples de contrôle logiciel et le support des commandes SCPI permettent une intégration transparente dans les environnements de test automatisés et le support de la compatibilité des commandes SMU conventionnelles.

Caractéristiques principales

  • Configuration canal unique avec sourçage et mesure quatre quadrants
  • Sortie maximale de 210 V, courant DC 3 A / courant d'impulsion 10.5 A
  • Résolution de sourçage et de mesure de 10 fA/100 nV
  • Capacités intégrées de sourçage et de mesure quatre quadrants
  • Écran LCD couleur de 4.3 pouces avec modes d'affichage graphique et numérique
  • Génération de forme d'onde arbitraire et numérisation à partir d'intervalles de 10 microsecondes
  • Mesure à débit élevé avec support des commandes SCPI
  • Interfaces USB, LAN, GPIB et I/O numériques pour une intégration flexible

Applications

  • Caractérisation de dispositifs optiques (diodes laser, photodiodes)
  • Test de dispositifs organiques (OLEDs)
  • Caractérisation de cellules photovoltaïques
  • Test de matériaux nanotechnologiques
  • Test de dispositifs de gestion de l'alimentation (LDOs, régulateurs)
  • Caractérisation de dispositifs semi-conducteurs (FETs, transistors, diodes)
  • Test de composants et applications R&D
High Frequency (range) DC <= 1kHz
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