Tektronix SUP5-WBG-DPT Application de Test Double Impulsion Wide Bandgap SiC GaN
Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test Application
Application de test double impulsion Tektronix SUP5-WBG-DPT pour caractériser et analyser les dispositifs à semiconducteurs SiC et GaN à large bande interdite sur les oscilloscopes série MSO 5.
Détails du produit
| Modèle | SUP5-WBG-DPT |
| Fabricant | Tektronix |
| Catégorie | Accessoires d'Oscilloscope |
| Disponibilité | Sur commande |
Description
Aperçu
Tektronix SUP5-WBG-DPT est une application de mesure conçue pour la plateforme oscilloscope série MSO 5, permettant une caractérisation complète des dispositifs à semiconducteurs à large bande interdite (WBG) incluant les composants de carbure de silicium (SiC) et de nitrure de gallium (GaN). La méthodologie de test double impulsion (DPT) fournit une évaluation précise de la performance du dispositif, du comportement de commutation et des caractéristiques thermiques essentielles pour le développement de l'électronique de puissance.
Caractéristiques principales
- Méthodologie de test double impulsion pour une caractérisation complète du dispositif
- Support des dispositifs à semiconducteurs SiC et GaN à large bande interdite
- Outils d'analyse intégrés pour le comportement de commutation et les métriques de performance
- Intégration transparente à la plateforme oscilloscope série MSO 5
Applications
- Caractérisation et validation de dispositifs à semiconducteurs à large bande interdite
- Développement de convertisseurs et d'onduleurs de puissance
- Évaluation des performances des dispositifs de commutation
- Recherche et développement en électronique de puissance
Caractéristiques techniques
| Application Type | Double Pulse Test (DPT) |
| Compatible Devices | SiC and GaN Wide-Bandgap Semiconductors |
| Compatible Platform | MSO 5 Series Oscilloscopes |
| License Type | NL (Non-Limited) |
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Tektronix SUP5-WBG-DPT Application de Test Double Impulsion Wide Bandgap SiC GaN