Oscilloscope Analyseur d'Échantillonnage Numérique Tektronix DSA8300
Tektronix DSA8300 Digital Sampling Analyzer Oscilloscope
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Le Tektronix DSA8300 est un oscilloscope d'échantillonnage numérique haute vitesse pour les tests des communications optiques et électriques de 155 Mb/s à 400G PAM4 avec gigue intrinsèque inférieure à 100 femtosecondes.
Détails du produit
| Modèle | DSA8300 |
| Fabricant | Tektronix |
| Catégorie | Oscilloscopes |
| Disponibilité | Sur commande |
Description
Aperçu
Le Tektronix DSA8300 est une plateforme de test de couche PHY haute vitesse complète pour les communications optiques et électriques. Avec une gigue intrinsèque inférieure à 100 femtosecondes et un support pour les débits de 155 Mb/s à 400G PAM4, il fournit une caractérisation de signal de précision pour les tests de conformité obligatoires par les normes dans les communications de données modernes.
Caractéristiques Principales
- Gigue intrinsèque : inférieure à 100 femtosecondes pour une précision de mesure exceptionnelle
- Modules optiques supportant les débits de données 155 Mb/s à 400G PAM4
- Récepteurs de référence optique (ORR) pour les tests de conformité obligatoires par les normes
- Échantillonneurs électriques avec bandes passantes sélectionnables (280 µV à 20 GHz, 450 µV à 60 GHz typiques)
- TDR intégré avec temps de montée d'échelon typique 10 ps
- Analyse complète de la gigue, du bruit et du BER des signaux PAM4 et PAM2 NRZ
- Automatisation du transmetteur 100G-SR4 et TDEC (Transmitter Dispersion Eye Closure)
- Test de masque automatisé avec plus de 80 masques conformes aux normes industrielles
- Support des normes nouvelles et émergentes via importation de masque personnalisé
- Taux d'acquisition d'échantillon élevé : jusqu'à 200 kS/s par canal
- Interfaces IEEE-488, Ethernet et processeur local
Applications
- Tests des communications optiques et vérification de conformité
- Caractérisation des liaisons optiques à courte portée et longue distance
- Analyse et validation du signal 400G PAM4
- Mesures de réflectométrie dans le domaine temporel (TDR) et paramètres S
- Tests de validation de conformité et de fabrication
- Développement et validation des normes émergentes
Caractéristiques techniques
| Intrinsic Jitter | Less than 100 femtoseconds |
| Optical Data Rate Range | 155 Mb/s to 400G PAM4 |
| Electrical Sampler Noise @ 20 GHz | 280 µV typical |
| Electrical Sampler Noise @ 60 GHz | 450 µV typical |
| TDR Step Rise Time | 10 ps typical |
| Sample Acquisition Rate | Up to 200 kS/s per channel |
| Standard Masks | Over 80 industry-standard masks |
| Measurement Functions | Jitter, noise, BER, mask testing, TDR, S-parameters |
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Oscilloscope Analyseur d'Échantillonnage Numérique Tektronix DSA8300
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