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Générateur de signaux Anritsu MG3692B

Anritsu MG3692B Signal Generator

Anritsu · Modèle : MG3692B Sur commande
Générateur de signaux Anritsu MG3692B
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Générateur de signaux large bande Anritsu MG3692B avec couverture 0.1 Hz à 70 GHz, puissance de sortie +23 dBm à 20 GHz et bruit de phase -94 dBc/Hz pour les tests RF/microondes.

Modèle MG3692B
Fabricant Anritsu
Catégorie Générateurs de signal RF et hyperfréquences
Disponibilité Sur commande

Présentation

L'Anritsu MG3692B est un générateur de signaux large bande couvrant 0.1 Hz à 70 GHz avec une couverture extensible jusqu'à 325 GHz et au-delà en utilisant des multiplicateurs externes. Combinant une puissance de sortie élevée avec une pureté spectrale excellente et un commutation de fréquence rapide, le MG3692B sert de source de signal idéale pour les applications de test RF et microondes. L'instrument offre la plus haute puissance de sortie et la meilleure pureté spectrale de sa classe, éliminant le besoin d'amplification externe dans la plupart des applications.

Caractéristiques principales

  • Large couverture de fréquence de 0.1 Hz à 70 GHz avec option d'extension en ondes millimétriques via multiplicateurs externes
  • Puissance de sortie garantie +23 dBm à 20 GHz avec bruit de phase typique -94 dBc/Hz à 1 kHz décalage
  • Commutation de fréquence rapide à 5 ms par point avec balayage en rampe analogique en option pour des mesures encore plus rapides
  • Suite de modulation complète : AM, FM, PM et modulation d'impulsion avec options simultanées
  • Puissance de sortie élevée éliminant le besoin d'amplification externe
  • Génération de signaux d'impulsion quadruple et capacités de balayage d'impulsion pour simulation radar
  • Compatibilité totale en arrière avec MG3690A et séries précédentes 68C/69B

Applications

  • Oscillateur local haute puissance pour test de conversion montante et descendante de fréquence
  • Simulation de signal radar pulsé avec capacités de cible mobile et de cibles multiples
  • Test ADC/DAC avec source d'horloge haute puissance
  • Test de composants incluant amplificateurs, mélangeurs et dispositifs non linéaires
  • Systèmes ATE nécessitant réduction du temps de test grâce à commutation de fréquence rapide
Form Factor Benchtop
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