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Analyseur de dispositif semiconducteur Keysight B1500A

Keysight B1500A Semiconductor Device Analyzer

Keysight · Modèle : B1500A Sur commande
Analyseur de dispositif semiconducteur Keysight B1500A
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L'analyseur de dispositif semiconducteur Keysight B1500A fournit des mesures courant-tension (IV), capacitance-tension (CV) et pulsées complètes pour une caractérisation complète du dispositif.

Modèle B1500A
Fabricant Keysight
Catégorie Équipement de test RF et micro-ondes
Disponibilité Sur commande

Aperçu

Le Keysight B1500A est un analyseur de dispositif semiconducteur complet conçu pour une caractérisation électrique complète de la recherche fondamentale aux tests de production avancés. Son architecture modulaire prend en charge jusqu'à dix modules de mesure, permettant une configuration adaptée aux besoins spécifiques et des capacités de mise à niveau à mesure que les exigences de mesure évoluent.

Capacités de mesure

  • Mesures courant-tension (IV) : modes spot, sweep, sampling et pulse avec plage de courant 0,1 fA à 1 A et plage de tension 0,5 µV à 200 V
  • Mesures de capacitance AC de 1 kHz à 5 MHz avec capacités de capacitance-tension quasi-statique (QS-CV)
  • Mesures IV pulsées avec intervalle d'échantillonnage minimum de 5 ns (fréquence d'échantillonnage 200 MSa/s)
  • Forçage de pulse haute tension jusqu'à 40 V pour la caractérisation de la mémoire non-volatile

Matériel et interface

  • Écran tactile 15 pouces avec plateforme Windows 7 intégrée
  • Interfaces GPIB, USB, LAN pour l'intégration du système
  • Port de sortie vidéo VGA
  • Conception modulaire avec dix emplacements disponibles pour les modules de mesure

Logiciel (EasyEXPERT group+)

L'environnement de caractérisation intégré s'exécute sur la plateforme embarquée du châssis ou sur des PC externes. Plusieurs modes d'opération—tests d'application, tests classiques, tests de traçage, tests rapides et vue oscilloscope—fournissent des configurations de mesure flexibles. Les fonctionnalités d'analyse automatisée, d'affichage graphique et de gestion des données facilitent l'évaluation efficace des dispositifs et la génération de rapports. Les résultats sont exportables en formats Excel et image pour analyse.

Applications

  • Caractérisation et évaluation du dispositif semiconducteur
  • Test des composants électroniques actifs et passifs
  • Caractérisation et analyse des matériaux
  • Évaluation des dispositifs de mémoire non-volatile
  • Test des dispositifs au niveau de la tranche avec intégration de sonde
High Frequency (range) 1MHz <= 10MHz
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