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Capacimètre Boonton 7200

Boonton 7200 Capacitance Meter

Boonton · Modèle : 7200 Sur commande
Capacimètre Boonton 7200
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Le Boonton 7200 est un capacimètre de précision pour la R&D et la fabrication avec détecteurs sensibles à la phase doubles, plage 0-2000 pF, fréquence de test 1 MHz, et niveaux de test programmables 15-100 mV.

Modèle 7200
Fabricant Boonton
Catégorie Wattmètres RF
Disponibilité Sur commande

Aperçu

Le Boonton 7200 est un capacimètre sophistiqué conçu pour les applications exigeantes de recherche et développement ainsi que de fabrication. Il utilise des détecteurs sensibles à la phase doubles pour extraire et afficher à la fois la capacitance parallèle et la conductance des dispositifs en test, ce qui le rend adapté aux mesures de semi-conducteurs précises et au contrôle de qualité.

Caractéristiques principales

  • Détecteurs sensibles à la phase doubles pour une mesure précise de la capacitance parallèle et de la conductance
  • Calcule et affiche la résistance parallèle et série équivalente
  • Calcule et affiche la capacitance série, le facteur de dissipation et le facteur de qualité (Q)
  • Affichage de l'écart de capacitance par rapport à un standard de référence sélectionnable en % ou en unités pF
  • Technique de filtre logiciel avec moyennage des mesures consécutives pour un affichage stable
  • Niveaux de test programmables de 15 à 100 mV pour une large plage de mesure
  • Jusqu'à 99 configurations de panneau avant stockables en mémoire non volatile
  • Interface IEEE-488 pour la commande à distance et la collecte de données
  • Fréquence de test contrôlée par cristal 1 MHz

Applications

  • Caractérisation et test de dispositifs semi-conducteurs
  • Recherche et développement de composants RF et micro-ondes
  • Contrôle de qualité et inspection en fabrication
  • Mesure de précision de la capacitance et de la conductance
  • Caractérisation de composants avec standards externes
Capacitance Range 0 to 2000 pF
Conductance Range 0 to 2000 µS
Test Frequency 1 MHz (crystal-controlled)
Internal Bias ±60 V
Test Level Range 15 to 100 mV (programmable)
Memory 99 setups (non-volatile)
Interface IEEE-488
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