Ensemble de Sondes Tektronix EMI-NF-PROBE en Champ Proche
Tektronix EMI-NF-PROBE Near Field Probe Set
Ensemble de sondes en champ proche Tektronix EMI-NF-PROBE pour les essais de pré-conformité CEM jusqu'à 6 GHz avec boucles blindées et revêtement en caoutchouc isolant.
Description
Aperçu
Tektronix EMI-NF-PROBE est un ensemble de sondes de champs magnétique et électrique conçu pour les mesures de pré-conformité CEM des émissions rayonnées. Cet ensemble de sondes est utilisé en champ proche des sources de rayonnement électromagnétique pour localiser et identifier les sources potentielles d'interférences dans les assemblages électroniques. Les sondes agissent comme des antennes à large bande, captant les émissions rayonnées des composants, des traces de circuits imprimés, des ouvertures de boîtier et d'autres pièces qui pourraient émettre de l'énergie RF, et sont généralement connectées à un analyseur de spectre.
Caractéristiques Clés
- Fréquence maximale : 6 GHz
- Design compact pour un bon accès aux composants étroitement espacés
- Boucles de champs magnétique et électrique blindées
- Isolé avec un revêtement en caoutchouc pour une manipulation sûre
- Insensible à la proximité de la main
Applications
- Mesure des émissions rayonnées CEM
- Test d'immunité RF
- Mesure relative sans contact des chaînes de signaux RF
- Mesure relative sans contact des oscillateurs et modulateurs
Caractéristiques techniques
| High Frequency (range) | 1GHz <= 10GHz |
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Ensemble de Sondes Tektronix EMI-NF-PROBE en Champ Proche