Analyseur de paramètres de semiconducteurs Keysight 4155C
Keysight 4155C Semiconductor Parameter Analyzer
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Keysight 4155C — analyseur de paramètres de paillasse avec quatre SMU moyenne puissance, résolution 10 femtoampères, et logiciel Desktop EasyEXPERT intégré.
Détails du produit
| Modèle | 4155C |
| Fabricant | Keysight |
| Catégorie | Analyseurs de semiconducteurs |
| Disponibilité | Sur commande |
Description
Aperçu
Le Keysight 4155C est un analyseur de paramètres de paillasse économique et précis pour la caractérisation avancée des semiconducteurs. Il offre des capacités de mesure complètes pour les tests paramétriques et l'analyse de composants dans les environnements de recherche et de production.
Caractéristiques principales
- Quatre SMU moyenne puissance (Source Measurement Units) avec capacité ±1 Amp et ±200 Volt
- Deux unités de source de tension (VSU) et deux unités de mesure de tension (VMU)
- Résolution de mesure 10 femtoampères et 0,2 microvolt
- Fonctions de mesure QSCV, Mode Stress, Knob-sweep et Stand-by
- Façade d'exploitation simple pour une facilité d'utilisation
- Logiciel Desktop EasyEXPERT inclus pour le contrôle de l'instrument via interface graphique
- Expanseur optionnel 41501B pour capacités haute puissance étendues (±1 A, ±200 V)
Applications
- Caractérisation et test de composants semiconducteurs
- Mesures paramétriques pour R&D et production
- Analyse avancée de composants pour laboratoires de recherche
Caractéristiques techniques
| Medium-Power SMU Count | 4 |
| Voltage Source Units | 2 |
| Voltage Measurement Units | 2 |
| Measurement Resolution (Current) | 10 femtoamperes |
| Measurement Resolution (Voltage) | 0.2 microvolts |
| Maximum Voltage | ±200 Volts |
| Maximum Current | ±1 Ampere |
| Measurement Modes | QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, Stand-by |
| Software Included | Desktop EasyEXPERT with 80+ pre-defined tests |
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Analyseur de paramètres de semiconducteurs Keysight 4155C
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