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Analyseur de spectre optique Yokogawa AQ6374

Yokogawa AQ6374 Optical Spectrum Analyzer

Yokogawa · Modèle : AQ6374 Sur commande
Analyseur de spectre optique Yokogawa AQ6374
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L'analyseur de spectre optique Yokogawa AQ6374 couvre 350–1750 nm avec une précision de ±0,05 nm, une plage dynamique 60 dB et une capacité de mesure rapide de 0,5 seconde.

Modèle AQ6374
Fabricant Yokogawa
Catégorie Analyseurs de spectre
Disponibilité Sur commande

Aperçu

L'analyseur de spectre optique Yokogawa AQ6374 offre une analyse spectrale complète sur une plage de longueur d'onde large de 350 à 1750 nm. Conçu pour les applications de télécommunications et industrielles, cet instrument offre une haute précision de longueur d'onde, des capacités de mesure rapide et des fonctions d'analyse extensives optimisées pour la productivité et la rentabilité dans l'évaluation de dispositifs optiques.

Caractéristiques principales

  • Plage de longueur d'onde : 350 à 1750 nm
  • Précision de longueur d'onde : ±0,05 nm
  • Résolution de longueur d'onde : 0,05 à 10 nm (8 réglages)
  • Plage dynamique : 60 dB (pic ±1,0 nm)
  • Plage de niveau : +20 à -80 dBm
  • Mesure rapide : 0,5 seconde pour une portée de 100 nm
  • Résolution d'échantillonnage élevée : 100 001 échantillons de longueur d'onde par balayage
  • Affichage de sept traces simultanées avec calcul multi-traces et conservation Max/Min
  • Zoom de trace via souris et fonctionnalité de glissement
  • Quatre ports USB pour appareils externes
  • Fonctionnement du panneau avant intuitif avec support de souris et clavier
  • Aperçu des fichiers en miniatures et archivage de trace complète au format CSV

Applications

  • Test et caractérisation des composants optiques de télécommunications
  • Recherche et développement de dispositifs optiques
  • Contrôle de qualité de fabrication et évaluation de dispositifs
  • Mesure et analyse optique industrielle
Wavelength Range 350 to 1750 nm
Wavelength Accuracy ±0.05 nm
Wavelength Resolution 0.05 to 10 nm
Dynamic Range 60 dB (peak ±1.0 nm)
Level Range +20 to -80 dBm
Measurement Speed 0.5 seconds (100 nm span)
Sampling Resolution 100,001 samples per sweep
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