Système d'Analyseur Paramétrique Keithley 4200A-SCS
Keithley 4200A-SCS Parametric Analyzer System
L'analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS offre des mesures DC I-V, C-V et I-V pulsé avec une architecture modulaire pour la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs.
Détails du produit
| Modèle | 4200A-SCS |
| Fabricant | Keithley |
| Catégorie | Unités source-mesure |
| Disponibilité | Sur commande |
Description
Aperçu
Le Keithley 4200A-SCS est un système analyseur paramétrique complet conçu pour la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs, combinant les capacités de mesure DC I-V, capacité-tension (C-V) et I-V pulsé ultra-rapide sur une seule plateforme. Le système s'intègre aux sondes de plaquettes automatisées et aux contrôleurs de température cryogénique pour des flux de test de dispositifs complets dans les applications de recherche, de fiabilité et de développement de dispositifs.
Caractéristiques principales
- Mesures DC I-V, C-V et I-V pulsé synchronisées dans un seul système
- Module de capacité 4215-CVU avec source AC 1 V, plage de fréquence 1 kHz à 10 MHz, résolution en femtofarad un chiffre
- 4200A-CVIV Multi-Switch pour commutation automatique de canal sans re-câblage ni levée de sonde
- Architecture SMU (unité de mesure source) modulaire avec jusqu'à 9 canaux pour mesure de faible courant jusqu'aux femtoampères
- Plateforme logicielle Clarius avec des centaines de tests d'application pré-construits et extraction de paramètres en temps réel
- Modules installables sur place et préamplificateurs optionnels pour la flexibilité de mesure
- Intégration complète avec les systèmes de sonde de plaquette MPI, Cascade Microtech et autres
Applications
- Extraction de paramètres et analyse des défaillances des dispositifs semi-conducteurs
- Caractérisation des dispositifs au niveau de la plaquette et des dispositifs emballés
- Études de développement de processus et d'amélioration du rendement
- Caractérisation des matériaux et tests de fiabilité
- Tests et analyse des dispositifs à température cryogénique
Caractéristiques techniques
| I-V Measurement Types | DC, Pulsed |
| C-V Frequency Range | 1 kHz to 10 MHz |
| C-V AC Source Voltage | 1 V |
| Capacitance Resolution | Single-digit femtofarads |
| CVU Channels | Up to 4 with 4200A-CVIV Multi-Switch |
| SMU Channels | Up to 9 source measure units |
| Current Measurement | Picoamps to amps |
| Integration | Supports MPI, Cascade Microtech, Lucas Labs/Signatone probers |
| Software | Clarius with hundreds of built-in application tests |
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Système d'Analyseur Paramétrique Keithley 4200A-SCS