Unité Keysight B2910CL Source Measure

Présentation

L'unité Keysight B2910CL est une unité source/mesure de précision à canal unique conçue pour des applications de test électronique précises et polyvalentes. Elle offre une gamme de sortie jusqu'à ±210 V et ±1.5 A DC avec une résolution de mesure jusqu'à 10 fA pour le courant et 100 nV pour la tension, permettant une caractérisation détaillée typiquement disponible dans les analyseurs de dispositifs semi-conducteurs haut de gamme. Le sourçage et la mesure de tension et de courant intégrés quatre quadrants simplifie les mesures IV en éliminant la nécessité de plusieurs instruments et configurations complexes.

Cette unité inclut une interface utilisateur graphique intuitive de 4.3 pouces avec plusieurs modes d'affichage—vue simple et vue graphique—permettant aux utilisateurs de configurer rapidement les tests, visualiser les données et effectuer une analyse interactive des dispositifs directement depuis le panneau avant. Les capacités de balayage intégrées offrent des balayages linéaires, logarithmiques et listes personnalisés avec jusqu'à 100 000 étapes, supportant une caractérisation complète sur divers composants électroniques. L'échantillonnage rapide jusqu'à 20 000 points par seconde capture efficacement les phénomènes transitoires et les comportements à basse fréquence.

Caractéristiques principales

• Configuration canal unique avec connecteurs de type banane
• Sortie maximale de 210 V, capacité de courant DC 1.5 A
• Résolution de mesure de 6.5 chiffres avec précision 10 fA/100 nV
• Capacités intégrées de sourçage et de mesure quatre quadrants
• Écran LCD couleur de 4.3 pouces avec modes d'affichage Simple et Graphique
• Génération de forme d'onde arbitraire avec jusqu'à 100 000 étapes programmables
• Capacité de numérisation de 20 000 points par seconde
• Support du test de limite et du mode transitoire rapide
• Connectivité USB 2.0, LAN, GPIB et I/O numériques

Applications

• Caractérisation de dispositifs semi-conducteurs et analyse de courbes IV
• Test de composants optiques (diodes laser, photodiodes)
• Test de dispositifs organiques (OLEDs)
• Caractérisation de cellules photovoltaïques
• Test de circuits intégrés de gestion de l'alimentation
• Test de composants discrets (transistors, diodes, résistors)
• Applications de recherche et développement

Accessoires inclus

• Unité Keysight B2910CL Source Measure Unit
• Câble d'alimentation
• Câble USB
• Guide de référence rapide (anglais)